CS-NanoPALS高靈敏Zeta電位及粒度分析儀粒度測量采用動態(tài)光散射原理，是一種準(zhǔn)確、快速、便捷的納米、亞微米粒度分析測試儀器。Zeta電位測量采用硬件PALS技術(shù)，與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比，靈敏度可提高約1000倍，可適用于諸如低介電常數(shù)、 高粘度、 高鹽濃度以及等電點附近這些測量條件下的樣品測量。

許多從事新材料、生命科學(xué)、環(huán)境工程等新興學(xué)科的研究人員長期以來苦于無法對諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽濃度以及等電點附近這些測量條件下的樣品進行分析，這是因為其電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統(tǒng)方法沒有足夠的靈敏度進行測量，CS-NanoPALS的出現(xiàn)為他們提供了準(zhǔn)確可信的測量技術(shù)。

簡單的計算即可說明硬件PALS技術(shù)的特性：

納米粒度測量部分使用動態(tài)光散射技術(shù)（DLS），即由于顆粒在懸浮液中的布朗運動，使得光強隨時間產(chǎn)生脈動。采用數(shù)字相關(guān)器技術(shù)處理脈沖信號，將光強的波動轉(zhuǎn)化為相關(guān)函數(shù)。自相關(guān)函數(shù)包含了懸浮顆?；蛘呷芤褐懈叻肿拥臄U散速度信息，進而利用Stokes-Einstein方程計算得出粒子的擴散系數(shù)和粒子粒徑R?及其分布：

主要特點：

1、高功率半導(dǎo)體激光器：功率40mW，波長640nm紅光激光器；

2、高靈敏度檢測器：APD雪崩型二極管檢測器；

3、表面Zeta電位測量：具有表面Zeta電位測量功能，可用于測量薄膜表面Zeta電位；

4、微流變測量：具有微流變測量功能，可通過顆粒運動分析（如均方位移MSD）表征復(fù)雜流體的流變特性，包括粘度、彈性模量G'及粘性模量G''，進行低粘性、弱結(jié)構(gòu)及高應(yīng)變敏感樣品的粘彈性表征；

5、在線檢測器功能：可作為在線檢測器與GPC/SEC連接；

6、高靈敏性：硬件PALS技術(shù)，靈敏度高約1000倍，適用于高鹽濃度、有機溶劑、油相體系；

7、強大的數(shù)據(jù)分析功能：軟件提供測試過程光強實時變化圖，并提供灰塵過濾功能；可自動研究粒度隨時間、溫度(蛋白熔點)以及其他參數(shù)變化的趨勢分析。

典型應(yīng)用：

1、脂質(zhì)體、生物膠體

2、陶瓷

3、顏料、油墨

4、醫(yī)藥

5、乳劑（食品、化妝品）

6、廢水處理

7、膠乳

8、炭黑